紅寶石探針頭系列 紅寶石探測器 紅寶石探針頭 紅寶石探測儀(*) 型號:DP-KDT
、特點
1、 使用幾何尺寸十分確的紅寶石軸套,確保探針間距的恒定、準確。
2、 控制寶石內孔與探針之間的縫隙不大于6μm,保證探針的小游移率。
3、 采用特制的S型懸臂式彈簧,使每根探針都具有立、準確的壓力。
4、 量具度的硬質合金探針,在寶石導孔內穩定運動,持久耐磨。
二、用途
1、 測量硅、鍺單晶(棒料、晶片)電阻率,測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻。
2、 測量導電玻璃(ITO)和其它導電薄膜的方塊電阻。
三、探針間距
1、 直線四探針…………… 1.00mm、1.27mm、1.59mm
2、 方形四探針…………… 1.00mm
3、 直線三探針…………… 1.00mm、1.27mm、1.59mm
4、 兩探針 …………… 1.00mm、1.59mm、4.76mm、10.00mm
四、標
1、 游移率
B級…………… <0.5%
*……………<0.3%
A*………… <0.2%
AA*…………<0.1%
2、 間距偏差
B級…………… <3%
*…………… <2%
A*………… <2%
AA*………… <1%
3、 zui大針與導孔間隙:0.006mm
4、 探針材料:硬質合金(主成份:口碳化鎢)或速鋼
5、 探針壓力 標準壓力:6—10N(4根針總壓力)
小壓力:1.2—5N(4根針總壓力)
1牛頓(N)=101.97克
6、 針尖壓痕直徑:25—100μm、100—250μm(簿層)
7、 500V緣電阻:>1000MΩ
2.
商品名稱:圓柱彎曲試驗儀/圓柱彎曲檢測儀
商品型號:DP-II
圓柱彎曲試驗儀/圓柱彎曲檢測儀 型號:DP-II
圓柱彎曲試驗儀/圓柱彎曲檢測儀說明:
DP-II圓柱彎曲試驗儀按GB/T 6742和ISO 1519-93,適用于測定色漆、清漆涂層在標準條件下繞定直徑園柱軸彎曲時而不引起涂膜破壞的zui小直徑,以mm表示。這是個非常簡單而且快速的測定涂層彈性的方法,只需將已有涂層的試板放在已知直徑的圓軸上彎曲,并觀察涂層的開裂或破壞的情況。
圓柱彎曲試驗儀/圓柱彎曲檢測儀主要參數:
■ 款人性化,方便快捷操作
■ 有12根不同直徑的不銹鋼棒:Φ2、Φ3、Φ4、Φ5 、Φ6 、Φ8 、Φ10 、 Φ12 、Φ 16 、 Φ20 、Φ25 、Φ32mm
■ 可測量zui大寬至35mm(1.38英寸)的試板
圓柱彎曲試驗儀/圓柱彎曲檢測儀 操作步驟:
→ 將涂料涂在寬35mm(1.38英寸)厚0.3mm(12mil)的金屬板上
→ 小心地涂膜并將它烤干以保證良好的重現性
→ 試驗時,在1-2秒內均勻用力把已上涂料的樣品彎曲至180度
→ 由zui大半徑圓柱軸開始,遞減半徑測試直到能看到涂層斷裂為止
■ 訂購信息:DP-II圓柱彎曲試驗儀