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Product Center表面形貌測量儀 /表面形貌測定儀
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產品分類表面形貌測量儀 /表面形貌測定儀 型號:DP-XM-200
• X方向采用滑動導軌作為水平移動的直線基準,導軌移動的距離采用度的光柵行計量;
• Z方向立柱也采用滑動導軌,并采用編碼器行測量,由電機-滾珠絲杠系統驅動;
• 可行粗糙度和輪廓度的測量,可測量、驅動、計算、顯示等,系統具有便攜能,可單使用,靈活方便;
• 測量軟件采用 Windows平臺,采用內標準定義和評定,數學模型整;
• 具有調整作臺可行 Y向及各種擺角調整,用戶可根據需要自由選擇,調整使用方便,能齊;
• 測量參數多,可行直線度、曲率偏差、雙溝各種參數、平行差、度等參數的測量,并可對機械件的表面形貌如粗糙度等嚴格按照內標準行測量。
• 測量度,差動電感傳感器測量靈敏性可達 0.01μm以內,X向光柵靈敏性達0.5μm以內,Z方向可行大量程度位移測量,度達4μm;
• 測量控制位多,不僅行傳統的 Z方向小位移測量和X方向的位移測量,還可行Z方向的大位移測量;選用Y方向移動作臺可以測量零件的三維表面型貌。
• 采用微機控制,可手動或自動循環測量、自動消除安裝誤差、自動行量程變換、直接顯示所得形狀及各種參數,并可打印輸出,具有標準數據庫存儲數據。
件名稱 | 內容 |
| 件名稱 | 內容 |
X方向移動 |
| Z方向移動(立拄) |
| |
輪廓形狀測量 |
| 附 件
| 水平、傾角、擺角調整 | |
粗糙度測量 |
| Y 向移動臺(選購) 導軌類型 | 三維形貌測量用 | |
可測量參數 | GB3505規定所有輪廓、波紋度和粗糙度參數,曲率半徑、溝中心距、鎖口、凸度、 | |||
硬件配置 | DELL機、液晶顯示器、打印機 | |||
測量軟件 | windowsXP |
2.
陶瓷磚抗凍性試驗機(陶瓷凍融試驗箱)/陶瓷磚抗凍性測定儀 型號:DP-CLD
該儀器適用于測量陶瓷磚抗凍性的設備,儀器符合GB/3810.12-2006陶瓷磚抗凍性測定的要求。
、陶瓷磚抗凍性試驗機主要參數
1、試驗區作溫度調節范圍:-20℃—+20℃;
2、試驗區:600×600×300(毫米);
3、控溫度:±1℃;
5、試驗方式:按設定試驗次數自動循環成。
6、電源: 220V ±10% 2.5 kw;
二、陶瓷磚抗凍性試驗機作條件
1、環境溫度:0~40℃;
2、電源: 220V,50 HZ;
3、備有水水源、出水管道;
三、陶瓷磚抗凍性試驗機組成
儀器由冷凍試驗箱、排水系統、控溫與自動控制系統三份組成。
本儀器的作原理是按GB/3810.12-2006家標準要求來實現的。
按試驗要求將電子計數器設定好試驗循環次數(100次)。將試樣放入試驗區內,蓋好蓋板。制冷使試驗區冷凍至-5?C,保持15分鐘,打開水泵使水噴灑在試樣上使試驗溫度上升至+5?C,保持15分鐘,計數器計數次,按試驗要求將電子計數器設定好試驗循環次數(100次)。自動按上述循環試驗,試驗后報警告示。
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