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相關(guān)文章變溫霍爾效應(yīng)實(shí)驗(yàn)儀霍爾效應(yīng)的測量是開展半導(dǎo)體研究的重要方法。本機(jī)利用計(jì)算機(jī)的數(shù)據(jù)采集和處理在80K-400K溫度范圍內(nèi)對(duì)霍爾系數(shù)和電導(dǎo)率的聯(lián)合測量,行半導(dǎo)體導(dǎo)電機(jī)制及散射機(jī)制的研究,并可確定半導(dǎo)體的些基本參數(shù),如導(dǎo)電類型、載流子濃度、遷移率、禁帶寬度以及雜質(zhì)電離能等。
餾實(shí)驗(yàn)儀實(shí)驗(yàn)?zāi)康模? 1、熟悉餾單元操作過程的設(shè)備與流程。 2、了解板式塔結(jié)構(gòu)與流體力學(xué)性能。 3、掌握餾塔的操作方法與原理。 4、學(xué)習(xí)餾塔效率的測定方法。
霍爾效應(yīng)實(shí)驗(yàn)儀實(shí)驗(yàn)內(nèi)容: 1、霍爾電壓與霍爾電流的關(guān)系; 2、霍爾電壓與勵(lì)磁電流的關(guān)系; 3、電磁鐵氣隙處X方向磁場強(qiáng)度的分布; 4、電磁鐵氣隙處Y方向磁場強(qiáng)度的分布; 5、測量磁感應(yīng)強(qiáng)度; 6、測量電磁鐵鐵芯的磁導(dǎo)率
穩(wěn)態(tài)平板法測定熱材料導(dǎo)熱系數(shù)實(shí)驗(yàn)臺(tái)術(shù)參數(shù):穩(wěn)態(tài)平板法是種應(yīng)用維穩(wěn)態(tài)導(dǎo)熱過程的基本原理來測定材料導(dǎo)熱系數(shù)的方法,可以用來行導(dǎo)熱系數(shù)的測定試驗(yàn),測定材料的導(dǎo)熱系數(shù)及其與溫度的關(guān)系;可測導(dǎo)熱系數(shù)在:0.02~400 w/(m.k)的200×200×20何材料。
光纖光譜儀應(yīng)用綜合實(shí)驗(yàn)儀實(shí)驗(yàn)內(nèi)容 ????? 1、利用反射光譜測定印刷品顏色; ????? 2、利用透射光譜測定濾光片透過率; ????? 3、利用等離子體光譜測定氣體成分; ????? 4、利用白光干涉測定薄膜厚度測量。